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一、分辨率的物理基礎:瑞利判據 光學顯微鏡的分辨率遵循瑞利判據(Rayleigh Criterion),其數學表達式為: d=n?sinθ0.61λ?
其中: - d:最小可分辨距離(分辨率);
- λ:照明光波長(單位:納米,nm);
- n:物鏡與樣品間介質的折射率(空氣為1,油浸物鏡為1.515);
- θ:物鏡對樣品張角的半角(數值孔徑 NA=n?sinθ)。
關鍵結論:
分辨率與波長成正比,與數值孔徑成反比。縮短波長或增大數值孔徑可提高分辨率。 二、影響分辨率的核心因素- 數值孔徑(NA)
- 定義:數值孔徑是物鏡收集光線能力的量化指標,NA=n?sinθ。
- 優化方法:
- 使用高折射率介質(如香柏油,n=1.515)替代空氣,可顯著提升NA;
- 選擇大孔徑物鏡(如油鏡,NA可達1.4-1.5)。
- 極限:受物鏡光學設計和制造工藝限制,NA通常不超過1.5。
- 照明光波長(λ)
- 可見光范圍:400-700 nm,短波長(如藍光,450 nm)可提高分辨率。
- 特殊光源:
- 紫外光(<400 nm)可進一步提升分辨率,但需特殊光學材料和樣品兼容性;
- 熒光顯微鏡中,激發光波長通常短于發射光,可優化信號對比度。
- 像差校正
- 球差:光線通過球面透鏡時聚焦點不一致,導致圖像模糊。
- 色差:不同波長光線折射率不同,導致顏色分散。
- 解決方案:采用消色差或復消色差物鏡,通過特殊玻璃組合校正色差。
- 場曲:圖像邊緣與中心不在同一焦平面,導致邊緣模糊。
- 解決方案:使用平場物鏡(Plan Apochromat)校正場曲。
三、分辨率的極限與突破- 理論極限:阿貝衍射極限
- 根據阿貝理論,光學顯微鏡的分辨率極限約為光波長的一半(λ/2)。
- 對于可見光(550 nm),理論分辨率極限約為220 nm。
- 突破衍射極限的技術
- 超分辨顯微技術:
- 受激發射損耗顯微術(STED):通過抑制熒光分子發光范圍,實現20-80 nm分辨率;
- 光激活定位顯微術(PALM/STORM):通過單分子定位,達到10-20 nm分辨率;
- 結構光照明顯微術(SIM):通過頻域調制,將分辨率提升至約100 nm。
- 近場光學顯微術:
- 利用探針與樣品表面的近場相互作用,突破衍射極限,實現納米級分辨率(如掃描近場光學顯微鏡,SNOM)。
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